La fonction de straggling. Distribution de la perte d’énergie des particules chargées dans des couches de silicium

La fonction de straggling : comment la perte d'énergie d'une particule chargée traversant une couche de silicium varie d'un événement à l'autre — la statistique derrière la distribution de Landau.

10 min de lecture

La nature statistique du processus d’ionisation lors du passage d’une particule chargée rapide à travers la matière entraîne de fortes fluctuations de la perte d’énergie (Δ) dans les absorbeurs dont l’épaisseur est faible par rapport au parcours de la particule.

Le nombre de paires électron-trou (J) est lié à Δ par l’expression J=Δ/P, où P est un facteur de proportionnalité qui, pour le silicium, vaut 3,68 eV. Δ et J sont tous deux des grandeurs stochastiques. Les fonctions de probabilité f(Δ) et φ(J) sont généralement appelées distribution de perte d’énergie ou fonctions de straggling.

Elles peuvent être décrites schématiquement par la position du maximum de la fonction de distribution (Δp) et la largeur totale à mi-hauteur (w), Δp se situant à une valeur plus faible que la perte d’énergie moyenne obtenue par Bethe-Bloch ‹Δ› (Fig. 1).

(cliquez ici pour télécharger le calculateur Bethe-Bloch en C++).

La perte d’énergie moyenne : Bethe-Bloch

Les collisions sont bien sûr aléatoires, mais leur nombre par longueur de trajet macroscopique est généralement grand, ce qui explique pourquoi on utilise généralement des grandeurs moyennes. L’une des grandeurs les plus importantes est la perte d’énergie moyenne par unité de longueur, souvent appelée pouvoir d’arrêt. De nombreuses théories ont été développées durant la première moitié du XXe siècle pour caractériser cette grandeur. Le calcul quantique correct fut décrit pour la première fois, vers 1932, par Hans Bethe, Bloch et d’autres auteurs, qui donnèrent la formule :

avec :

2π Na re^2 mec^2= 0,1535 MeVcm2/gβ : v/c de la particule incidente
re : rayon de l’électron (2,817 x 10-13 cm)ρ : densité du matériau absorbant
Me : masse de l’électronγ :
Na : nombre d’Avogadroδ : correction de densité
Z : numéro atomique du matériau absorbantC : correction de couche
A : masse atomique du matériau absorbantI : potentiel moyen d’excitation
z : charge de la particule incidenteWmax : énergie maximale transférable en une seule collision

Wmax peut être calculé à l’aide de l’équation :

où : s=me/M et η=βγ.

L’énergie moyenne d’excitation I dépend de la fréquence orbitale du matériau absorbant, et il n’existe pas de formule précise pour calculer cette valeur. Cependant, des valeurs de I pour plusieurs matériaux ont été déduites de mesures et sont répertoriées par l’ICRU. Les deux derniers termes entre parenthèses de la formule sont les corrections de densité et de couche ; ils ont été insérés dans la formulation originale de Bethe-Bloch afin d’améliorer la prédiction de la formule sur certaines plages, par rapport aux résultats expérimentaux. La correction de densité tient compte de l’effet du champ électrique produit par les particules entrantes et est plus marquée à haute vitesse. La correction de couche, en revanche, se remarque lorsque la vitesse de la particule incidente est comparable à la vitesse orbitale des électrons liés du matériau cible.

À cette faible énergie, d’autres effets complexes entrent en jeu et la formule de Bethe-Bloch cesse d’être valable. Lorsque la vitesse est comparable à celle des électrons orbitaux du matériau cible, la perte d’énergie atteint un maximum dépendant du signe de la charge (effet Barkas), puis chute nettement à plus basse énergie. À plus haute énergie (c’est-à-dire à vitesse plus élevée), dE/dx est dominé par le facteur 1/β2 et décroît jusqu’à β ≅ 0,96c, où un minimum est atteint. Une particule à cette énergie est généralement désignée sous le nom de particule au minimum d’ionisation (MIP).

En augmentant l’énergie, les pertes n’augmentent plus autant en raison de l’effet de densité (plateau de Fermi), jusqu’à ce que les composantes radiatives, comme le rayonnement Cherenkov et le Bremsstrahlung, deviennent significatives. Le rayonnement Cherenkov apparaît lorsqu’une particule chargée se déplace, dans un milieu, plus vite que la vitesse de la lumière dans ce même milieu (βc>c/n, avec n : indice de réfraction) : il se crée alors une onde de choc électromagnétique, tout comme un avion dépassant la vitesse du son.

En particulier pour les particules légères, comme les électrons ou les positrons à très haute énergie, l’émission de Bremsstrahlung constitue le principal mécanisme de perte d’énergie. La déviation et la décélération de la particule dues à l’interaction avec les noyaux de la cible provoquent l’émission de photons ; cet effet est d’autant plus important que la particule est légère (la probabilité d’émission par Bremsstrahlung varie en effet comme l’inverse du carré de la masse de la particule) et que le numéro atomique du matériau cible est élevé. Tandis que le taux de perte par ionisation croît de façon logarithmique avec l’énergie, les pertes par Bremsstrahlung croissent linéairement et dominent à haute énergie (à peine quelques dizaines de MeV suffisent dans la plupart des matériaux, pour les électrons). La figure 1 ci-dessous montre la perte d’énergie moyenne (le pouvoir d’arrêt) pour des muons positifs dans le cuivre, de quelques centaines de keV à quelques dizaines de TeV.

Pouvoir d'arrêt des muons positifs dans le cuivre
Fig. 1 Pouvoir d’arrêt des muons positifs dans le cuivre

Correction de Bethe-Bloch pour les électrons et les positrons

Les électrons et les positrons nécessitent une attention particulière. D’abord, leur faible masse implique la possibilité d’une déviation importante dès une seule collision ; de plus, les collisions se produisent entre particules identiques, si bien que le calcul doit tenir compte de leur indiscernabilité. Il en résulte que l’énergie maximale transférable en une seule collision devient :

avec Te : énergie cinétique de la particule incidente, et la formule de Bethe-Bloch peut se réarranger sous la forme :

avec :

où l’indice « + » désigne les positrons et « – » les électrons.

De la moyenne à la distribution : Landau et Vavilov

Landau et Vavilov ont effectué des calculs théoriques sur cette distribution. Chacune de ces solutions possède cependant un domaine d’application différent, et le paramètre distinctif dans toutes ces théories est le rapport k = ‹Δ› / Emax où Emax est l’énergie maximale transférable en une seule collision.

Landau résolut ce problème pour toutes les situations où k ≤ 0,01, en déduisant la distribution de perte d’énergie attendue par résolution d’une équation de transport intégrale :

les calculs de distribution ont été menés par Landau et Vavilov

Ici, f(x,Δ) représente la probabilité que la particule incidente perde une quantité d’énergie Δ en traversant une couche d’épaisseur x. W(E)dE désigne la probabilité, par unité de longueur de trajet, qu’une collision transfère une énergie E à un électron du matériau.

La fonction W(E)dE n’est généralement pas connue, mais Landau parvint à en déduire une solution approchée en utilisant la section efficace de l’électron libre (Rutherford) :

la section efficace de l'électron libre (Rutherford)

avec

la section efficace de l'électron libre (Rutherford)

keV μm-1 dans le silicium.

Dans l’équation précédente, z est la charge de la particule incidente, Z et A sont le numéro atomique et la masse atomique du matériau, et ρ est la densité. La distribution de Landau est donc donnée par [1]

distribution de Landau

avec φ(λ) une fonction universelle ne dépendant que de la variable λ

et

où CE est la constante d’Euler, égale à 0,5772. La distribution de Landau, fL(Δ), est asymétrique, avec une queue s’étendant jusqu’à Emax, un maximum pour λ=-0,229 et w=4,018ξ. Cette queue est principalement due aux rayons δ émis rapidement. La perte d’énergie correspondant au maximum de la fonction fL(Δ) est la perte d’énergie la plus probable [2]

où I est le potentiel moyen d’excitation et δ la correction de densité. (cliquez ici pour télécharger le Landau Fit en Matlab)

Fig. 2 Pouvoir d'arrêt des muons positifs dans le cuivre. Fonctions de straggling dans le silicium pour des pions de 500 MeV, normalisées à l'unité à la valeur la plus probable Δp/x. La largeur w est la largeur totale à mi-hauteur.
Fig. 2 Pouvoir d’arrêt des muons positifs dans le cuivre. Fonctions de straggling dans le silicium pour des pions de 500 MeV, normalisées à l’unité à la valeur la plus probable Δp/x. La largeur w est la largeur totale à mi-hauteur.

Par la suite, Vavilov [3] établit une solution améliorée tenant compte du spin de la particule incidente et introduisant les limites physiques issues de Emax. Pour la section efficace de collision, Vavilov utilisa la forme

Interaction of Particles with Matter: From Theory to Measurements

Interaction of Particles with Matter: From Theory to Measurements

Understand the Mysteries of Radiation: Master the Interaction with Matter in a Few Simple Steps

Vavilov démontra également que sa solution tend vers la fonction de Landau pour k ≤ 0,01, région où ‹Δ› est approximé à ξ. Par exemple, pour des détecteurs au silicium de 300 μm, la convergence est déjà atteinte pour des protons d’impulsion supérieure à 550 MeV/c. Pour k > 10, le nombre de collisions est très grand et, par le théorème central limite, la fonction de Vavilov coïncide avec une distribution gaussienne, dont l’écart-type est

Fig. 3 Perte d'énergie la plus probable dans le silicium, rapportée à la perte moyenne d'une particule au minimum d'ionisation, 388 eV/μm (1,66 MeVcm2/g).
Fig. 3 Perte d’énergie la plus probable dans le silicium, rapportée à la perte moyenne d’une particule au minimum d’ionisation, 388 eV/μm (1,66 MeVcm2/g).

Get the next one by email

Power, cooling, chips and the rules that shape them. No spam, unsubscribe any time.

Corrections de liaison : pourquoi la largeur mesurée est plus grande

Les solutions de Landau-Vavilov ont été établies en supposant que les diffusions se produisent sur des électrons quasi libres. Elles négligent donc les énergies de liaison électronique. Cette hypothèse n’est une approximation valable que pour les collisions rapprochées.

D’autres corrections à la théorie, tenant compte du fait que les électrons du matériau ne sont pas libres, ont été tentées par Blunck et Leisegang [4], Shulek [5] et Bichsel [6].

Dans le cas des milieux solides, ces calculs visent l’observation expérimentale selon laquelle, si la perte d’énergie la plus probable s’accorde plutôt bien avec la prédiction théorique, la largeur de la distribution est plus grande que prévu et ne peut être attribuée ni au bruit électronique ni à une résolution imparfaite. Cet effet est particulièrement marqué pour des absorbeurs très minces [7], de l’ordre de quelques centaines de μm ou moins. La distribution de perte d’énergie modifiée peut être améliorée en utilisant une section efficace modifiée tenant compte de l’énergie de liaison électronique et de la structure en couches atomiques. La fonction de straggling en énergie modifiée peut s’exprimer comme :

Autrement dit, le spectre d’énergie observé expérimentalement peut être calculé en convoluant la distribution de Landau avec une distribution normale de variance δ2. Le résultat de la convolution est une distribution plus large, dont la valeur de pic est généralement légèrement supérieure à celle prédite par la théorie de Landau. À partir des observations expérimentales, la valeur de δ2 a été estimée :

où fi est la fraction d’électrons dans cette couche. Dans le silicium, cette valeur s’approche de

La distribution de perte d’énergie améliorée qui en résulte a une largeur globale w, approximativement donnée par :

√[(4,018 ξ )^2 + ( 5,56 δ2 )]

À mesure que l’épaisseur du matériau diminue, δ2 devient de plus en plus le terme dominant qui détermine la largeur globale w de la fonction de straggling. À l’inverse, on ne s’attend pas à ce qu’il produise un élargissement supplémentaire de la distribution pour de grandes épaisseurs.

Par exemple, pour un détecteur au silicium de 300 μm d’épaisseur, on obtient ξ ~ 5,34 keV, √(δ2) ~ 5,76 keV, et une largeur globale w de 25,4 keV (soit 18 % de plus que la largeur de Landau), pour une particule relativiste avec β~ 1 et z = 1, en accord avec les données expérimentales.

Fig. 4 Valeur la plus probable, en paires électron-trou générées par un électron dans le silicium, pour différentes épaisseurs traversées (a). La courbe en (b) représente la MPV des paires électron-trou générées, dans la plage de 300 à 500 MeV, par les électrons en fonction de l'épaisseur
Fig. 4 Valeur la plus probable, en paires électron-trou générées par un électron dans le silicium, pour différentes épaisseurs traversées (a). La courbe en (b) représente la MPV des paires électron-trou générées, dans la plage de 300 à 500 MeV, par les électrons en fonction de l’épaisseur

Energy-loss calculator: mean, most probable value and straggling

Your particle, your absorber. Mean rate from the Bethe formula with the density-effect correction, the most probable loss from the Landau theory as given in the PDG review, and the straggling curve for your case.

MeV/c
µm

The calculator needs JavaScript. The reference values below are computed by the same code.

Method, constants and limits

Method. Mean rate: Bethe formula, ⟨−dE/dx⟩ = K z² (Z/A) β⁻² [ ½ ln(2mec²β²γ²Tmax/I²) − β² − δ/2 ], without shell or Barkas terms (they exceed a few percent only below βγ ≈ 0.1). Most probable loss: Δp = ξ [ ln(2mec²β²γ²/I) + ln(ξ/I) + 0.200 − β² − δ ], ξ = (K/2) z² (Z/A) x/β². Regime from κ = ξ/Tmax: Landau below 0.01, Vavilov to 10, Gaussian above. The Landau density is evaluated by direct quadrature of its defining integral, not an approximation. Both formulas and their notation follow the Particle Data Group review Passage of particles through matter.

Electron-hole pairs (silicon only). Pairs per micrometre = energy deposited per micrometre ÷ w, w = 3.62 eV (silicon, room temperature; PDG review / silicon-detector literature, e.g. Knoll, Radiation Detection and Measurement). Two figures are reported, not one, because they answer different questions: the mean rate uses ⟨dE/dx⟩ and does not depend on thickness (≈108/µm for a minimum-ionising particle in silicon); the most probable rate uses Δp at the thickness entered above and does depend on it, because Δp is not linear in thickness — it is what a thin detector actually reads out on a single pass, the same Landau/straggling quantity this tool otherwise reports in keV. Quoting only the mean figure for a thin-detector signal is a common error this tool deliberately avoids.

Constants. I, density, Z/A and δ(βγ) per material from NIST ESTAR (SRD 124); K = 4πNAre²mec² and mec² from CODATA; particle masses from the PDG; w = 3.62 eV for silicon as above — not an ESTAR/XCOM quantity, typed directly in the engine with its source. The Bethe engine reproduces NIST PSTAR proton stopping powers to within 1% from 50 MeV to 10 GeV in every material offered; the deviations are on record in the repository tests.

Limits. Heavy charged particles only (no electrons). βγ from 0.1 to about 2×10⁴. Thin absorbers: when the mean loss exceeds 10% of the kinetic energy the constant-velocity assumption fails and the result says so. The e-h pair figures are silicon-only: no sourced w is offered for any other material.

Reference values: a minimum-ionising muon in silicon

Muon at βγ = 3.5 (369.8 MeV/c), where the mean rate in silicon is at its minimum. Computed by the calculator above. The last two columns are the e-h pair yield per micrometre (w = 3.62 eV): the most-probable column changes with thickness because Δp is not linear in x; the mean column does not.

Thickness (µm)Most probable loss Δp (keV)Mean loss (keV)FWHM (keV)Δp / meanκe-h pairs/µm (most probable)e-h pairs/µm (mean)
5011.3119.333.8760.5858.0e-562.48106.8
10023.9638.657.7510.621.6e-466.17106.8
15037.1157.9811.630.642.4e-468.34106.8
20050.5877.315.50.6543.2e-469.87106.8
30078.2211623.250.6754.8e-472.03106.8
500135.3193.338.760.78.0e-474.75106.8
1000284386.577.510.7351.6e-378.44106.8

Method: PDG review Passage of particles through matter (Bethe formula, Landau most probable value). Constants: NIST ESTAR silicon (I = 173 eV, ρ = 2.33 g/cm³), CODATA, PDG masses. Pair-creation energy w = 3.62 eV (silicon, room temperature; PDG review / silicon-detector literature) is not an ESTAR/XCOM quantity and is typed directly in the engine.

Minimum ionisation by material

The minimum of the mean rate ⟨−dE/dx⟩ for a singly charged heavy particle, and the βγ at which it occurs.

Materialρ (g/cm³)I (eV)Z/Aβγ at minimum⟨−dE/dx⟩min (MeV cm²/g)(keV/µm)
Silicon2.331730.49853.421.6590.3865
Germanium5.3233500.44083.261.3720.7301
Carbon (amorphous)2810.49953.921.7430.3486
Aluminium2.6991660.48183.421.6110.4347
Iron7.8742860.46563.441.451.142
Copper8.963220.45643.421.4021.257
Tungsten19.37270.40253.161.1442.207
Lead11.358230.39583.021.1211.273
Argon (gas)0.0016621880.45063.161.5192.524e-4
Water1750.555141.9980.1998
Air (dry, sea level)0.00120585.70.49923.31.8152.186e-4
Plastic scintillator1.03264.70.54144.041.9560.2018
Kapton1.4279.60.51263.961.820.2584
Silicon dioxide2.32139.20.49933.641.6970.3937
Concrete (Portland)2.3135.20.50273.661.7110.3936
Bone (compact, ICRU)1.8591.90.53013.921.8490.3421
Soft tissue (ICRP)172.30.55124.021.9850.1985

Bethe formula with the NIST ESTAR density-effect correction; no shell or Barkas terms. Material constants: NIST ESTAR (SRD 124). Checked against NIST PSTAR to within 1% (50 MeV – 10 GeV protons).

Vous préférez un simple calculateur, ou souhaitez connaître le rendement en paires électron-trou par micromètre pour votre propre cas ? Ouvrir l’outil de perte d’énergie sur sa propre page →

Références

  1. L. Landau , On the Energy Loss of Fast Particles by Ionization, J. Phys. USSR 8 (1944) 201.
  2. Particle Data Group PDG, Passage of particles through matter, Nuclear and Particle Physics, vol. 33, no. 27, pp. 258-270, July 2006.
  3. P.V.Vavilov, Ionization losses of high energy heavy particles, Soviet Physics JETP, 5:749, 1957.
  4. Energy loss measurement for charged particles in very thin silicon layers , JINST, 6 P06013 doi: 10.1088/1748-0221/6/06/P06013
  5. Blunck and S. Leisegang, Zum Energieverlust schneller Elektronen in d�nnen Schichten, Z. Physik 128 (1950) 500.
  6. P. Shulek at al., Fluctuations of Ionization Loss, Sov. J. Nucl. Phys 4 (1967) 400.
  7. H. Bichsel, Straggling of Heavy Charged Particles: Comparison of Born Hydrogenic-Wave-Function Approximation with Free-Electron Approximation, Phys. Rev. B1 (1970) 2854
  8. H. Esbensen at al., Random and channeled energy loss in thin germanium and silicon crystals for positive and negative 2-15-GeV/c pions, kaons, and protons, Phys. Rev. B18 (1978) 103939
  9. William R. Leo, Techniques for Nuclear and Particle Physics Experiments. Berlin and Heidelberg: Springer, 1987.
  10. Claude Leroy, Pier Giorgio Rancoita, Principles of Radiation Interaction in Matter and Detection. Singapore: World Scientific Publishing, 2004.
  11. International Commission on Radiation Units and Measurements. [Online]. http://www.icru.org/
  12. S. M. Sze, Kwok Kwok Ng, Physics of Semiconductor Devices. John Wiley & Sons, 2007.

Citer cet article

Style de citation

Editorial, S. (2026, 19 septembre). La fonction de straggling. Distribution de la perte d'énergie des particules chargées dans des couches de silicium. ScienceShot. https://scienceshot.com/fr/post/fonction-de-straggling-perte-denergie-particules-chargees-silicium

Editorial, ScienceShot. “La fonction de straggling. Distribution de la perte d'énergie des particules chargées dans des couches de silicium.” ScienceShot, 19 sept. 2026, scienceshot.com/fr/post/fonction-de-straggling-perte-denergie-particules-chargees-silicium.

Editorial, ScienceShot. “La fonction de straggling. Distribution de la perte d'énergie des particules chargées dans des couches de silicium.” ScienceShot, 19 septembre 2026. https://scienceshot.com/fr/post/fonction-de-straggling-perte-denergie-particules-chargees-silicium.

@online{scienceshot-fonction-de-straggling-perte-2026,
  author       = {Editorial, ScienceShot},
  title        = {{La fonction de straggling. Distribution de la perte d'énergie des particules chargées dans des couches de silicium}},
  organization = {ScienceShot},
  date         = {2026-09-19},
  year         = {2026},
  url          = {https://scienceshot.com/fr/post/fonction-de-straggling-perte-denergie-particules-chargees-silicium}
}
Partager

Get the weekly brief

Sourced analysis of data-centre engineering and regulation, every Monday. No spam, unsubscribe any time.

ScienceShot Editorial
ScienceShot Editorial
Articles: 174